Putro PA, Roza L, - I. KARAKTERISASI SIFAT OPTIK C-DOTS DARI KULIT LUAR SINGKONG MENGGUNAKAN TEKNIK MICROWAVE. TECHNOSCIENTIA [Internet]. 2019 Feb. 1 [cited 2024 Aug. 30];11(2):128-36. Available from: https://ejournal.akprind.ac.id/index.php/technoscientia/article/view/894